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Trabalho de evento-resumo
The IFUSP facilities for material modification induced by ion beams (2011)
Silva, T F; Tabacniks, Manfredo Harri ; Rizzuto, M A; Added, N; Barbosa, M D L; Delgado, A
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
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ABNT
SILVA, T F et al. The IFUSP facilities for material modification induced by ion beams. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/144.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Silva, T. F., Tabacniks, M. H., Rizzuto, M. A., Added, N., Barbosa, M. D. L., & Delgado, A. (2011). The IFUSP facilities for material modification induced by ion beams. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/144.pdf
NLM
Silva TF, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL, Delgado A. The IFUSP facilities for material modification induced by ion beams [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/144.pdf
Vancouver
Silva TF, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL, Delgado A. The IFUSP facilities for material modification induced by ion beams [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/144.pdf
Trabalho de evento-resumo
Comparative study of the proton beam effects between the conventional and circular gate MOSFETs. (2011)
Cirne, Karin Huscher; Lima, J A de; Seixas Jr, L E; Silveira, M A G; Barbosa, M D L; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, N; Medina, N H; Gimenez, S P; Melo, W
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA)
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ABNT
CIRNE, Karin Huscher et al. Comparative study of the proton beam effects between the conventional and circular gate MOSFETs. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/239.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Cirne, K. H., Lima, J. A. de, Seixas Jr, L. E., Silveira, M. A. G., Barbosa, M. D. L., Tabacniks, M. H., et al. (2011). Comparative study of the proton beam effects between the conventional and circular gate MOSFETs. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/239.pdf
NLM
Cirne KH, Lima JA de, Seixas Jr LE, Silveira MAG, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W. Comparative study of the proton beam effects between the conventional and circular gate MOSFETs. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/239.pdf
Vancouver
Cirne KH, Lima JA de, Seixas Jr LE, Silveira MAG, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W. Comparative study of the proton beam effects between the conventional and circular gate MOSFETs. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/239.pdf
Trabalho de evento-resumo
Study of pottery of Aldeia Lalima archaeological site (MS-Br) (2011)
Curado, J F; Rizzuto, M A; Added, N; F.A.Silva; Bespalez, E
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: ARQUEOLOGIA
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ABNT
CURADO, J F et al. Study of pottery of Aldeia Lalima archaeological site (MS-Br). 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/73.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Curado, J. F., Rizzuto, M. A., Added, N., F.A.Silva,, & Bespalez, E. (2011). Study of pottery of Aldeia Lalima archaeological site (MS-Br). In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/73.pdf
NLM
Curado JF, Rizzuto MA, Added N, F.A.Silva, Bespalez E. Study of pottery of Aldeia Lalima archaeological site (MS-Br) [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/73.pdf
Vancouver
Curado JF, Rizzuto MA, Added N, F.A.Silva, Bespalez E. Study of pottery of Aldeia Lalima archaeological site (MS-Br) [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/73.pdf
Trabalho de evento-resumo
Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. (2011)
Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da ; Cirne, Karin Huscher; Seixas Jr, L E; Lima, J A de; Barbosa, M D L; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, N; Medina, N H; Gimenez, S P; Melo, W; Santos, R B B
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
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ABNT
SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da et al. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Silveira, M. A. G. da, Cirne, K. H., Seixas Jr, L. E., Lima, J. A. de, Barbosa, M. D. L., Tabacniks, M. H., et al. (2011). Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
NLM
Silveira MAG da, Cirne KH, Seixas Jr LE, Lima JA de, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W, Santos RBB. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
Vancouver
Silveira MAG da, Cirne KH, Seixas Jr LE, Lima JA de, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W, Santos RBB. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
Trabalho de evento-resumo
Effects of total dose of ionizing radiation on integrated circuits (2011)
Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da ; Added, N; Barbosa, M D L; Medina, N H; Tabacniks, Manfredo Harri ; Cirne, Karin Huscher; Gimenez, S; Santos, R B B; Lima, J A de; Seixas Junior, L E; Melo, W
Source: Resumo. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da et al. Effects of total dose of ionizing radiation on integrated circuits. 2011, Anais.. Foz do Iguaçu: SBF, 2011. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0340-1.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Silveira, M. A. G. da, Added, N., Barbosa, M. D. L., Medina, N. H., Tabacniks, M. H., Cirne, K. H., et al. (2011). Effects of total dose of ionizing radiation on integrated circuits. In Resumo. Foz do Iguaçu: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0340-1.pdf
NLM
Silveira MAG da, Added N, Barbosa MDL, Medina NH, Tabacniks MH, Cirne KH, Gimenez S, Santos RBB, Lima JA de, Seixas Junior LE, Melo W. Effects of total dose of ionizing radiation on integrated circuits [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0340-1.pdf
Vancouver
Silveira MAG da, Added N, Barbosa MDL, Medina NH, Tabacniks MH, Cirne KH, Gimenez S, Santos RBB, Lima JA de, Seixas Junior LE, Melo W. Effects of total dose of ionizing radiation on integrated circuits [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0340-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. (2011)
Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da ; Medina, N H; Added, N; Tabacniks, Manfredo Harri ; Santos, R B; Cirne, Karin Huscher; Gimenez, S P; Lima, J A De; Seixas, L E
Source: Resumo. Conference titles: Latin American Symposium on Nuclear Physics and Applications. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
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ABNT
SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da et al. Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. 2011, Anais.. Quito: LASNPA, 2011. Disponível em: http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Silveira, M. A. G. da, Medina, N. H., Added, N., Tabacniks, M. H., Santos, R. B., Cirne, K. H., et al. (2011). Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. In Resumo. Quito: LASNPA. Recuperado de http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49
NLM
Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Tabacniks MH, Santos RB, Cirne KH, Gimenez SP, Lima JAD, Seixas LE. Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49
Vancouver
Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Tabacniks MH, Santos RB, Cirne KH, Gimenez SP, Lima JAD, Seixas LE. Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49
Trabalho de evento-resumo
An optimized external beam setup for archaeological and arteometry research (2011)
Rizzutto, M A; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, N; Barbosa, M D L
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: ARQUEOLOGIA
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ABNT
RIZZUTTO, M A et al. An optimized external beam setup for archaeological and arteometry research. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/185.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Rizzutto, M. A., Tabacniks, M. H., Added, N., & Barbosa, M. D. L. (2011). An optimized external beam setup for archaeological and arteometry research. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/185.pdf
NLM
Rizzutto MA, Tabacniks MH, Added N, Barbosa MDL. An optimized external beam setup for archaeological and arteometry research [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/185.pdf
Vancouver
Rizzutto MA, Tabacniks MH, Added N, Barbosa MDL. An optimized external beam setup for archaeological and arteometry research [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/185.pdf
Trabalho de evento-resumo
Thin target PIXE calibration using thick target yields (2011)
Aguirre, F R; Tabacniks, Manfredo Harri ; Rizzuto, M A; Added, N; Barbosa, M D L
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIRRE, F R et al. Thin target PIXE calibration using thick target yields. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Aguirre, F. R., Tabacniks, M. H., Rizzuto, M. A., Added, N., & Barbosa, M. D. L. (2011). Thin target PIXE calibration using thick target yields. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf
NLM
Aguirre FR, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL. Thin target PIXE calibration using thick target yields [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf
Vancouver
Aguirre FR, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL. Thin target PIXE calibration using thick target yields [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf
Artigo de periodico
Trace element concentrations from Sao Francisco River - PR analyzed with PIXE technique (2006)
Rizzutto, Marcia de Almeida; Added, N; Tabacniks, Manfredo Harri ; Espinoza-Quinones, F R; Palácio, S M; Galante, R M; Rossi, N.; Zenatti, D C; Rossi, F L; Welter, R A; Módenes, A N
Source: Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RIZZUTTO, Marcia de Almeida et al. Trace element concentrations from Sao Francisco River - PR analyzed with PIXE technique. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry, v. 269, n. 3, p. 727-731, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s10967-006-0422-0. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Rizzutto, M. de A., Added, N., Tabacniks, M. H., Espinoza-Quinones, F. R., Palácio, S. M., Galante, R. M., et al. (2006). Trace element concentrations from Sao Francisco River - PR analyzed with PIXE technique. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry, 269( 3), 727-731. doi:10.1007/s10967-006-0422-0
NLM
Rizzutto M de A, Added N, Tabacniks MH, Espinoza-Quinones FR, Palácio SM, Galante RM, Rossi N, Zenatti DC, Rossi FL, Welter RA, Módenes AN. Trace element concentrations from Sao Francisco River - PR analyzed with PIXE technique [Internet]. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry. 2006 ; 269( 3): 727-731.[citado 2024 abr. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10967-006-0422-0
Vancouver
Rizzutto M de A, Added N, Tabacniks MH, Espinoza-Quinones FR, Palácio SM, Galante RM, Rossi N, Zenatti DC, Rossi FL, Welter RA, Módenes AN. Trace element concentrations from Sao Francisco River - PR analyzed with PIXE technique [Internet]. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry. 2006 ; 269( 3): 727-731.[citado 2024 abr. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10967-006-0422-0
Artigo de periodico
Teeth characterization using ion beam analysis (2006)
Rizzutto, Marcia de Almeida; Added, N; Tabacniks, Manfredo Harri ; Falla-Sotelo, F; Curado, J F; Francci, C; Markarian, R A; Quinelato, A; Youssef, F; Mori, M.; Youssef, M
Source: Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry. Unidades: IF, FO
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FEIXES, ÍONS PESADOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RIZZUTTO, Marcia de Almeida et al. Teeth characterization using ion beam analysis. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry, v. 269, n. 3, p. 683-687, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s10967-006-0286-3. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Rizzutto, M. de A., Added, N., Tabacniks, M. H., Falla-Sotelo, F., Curado, J. F., Francci, C., et al. (2006). Teeth characterization using ion beam analysis. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry, 269( 3), 683-687. doi:10.1007/s10967-006-0286-3
NLM
Rizzutto M de A, Added N, Tabacniks MH, Falla-Sotelo F, Curado JF, Francci C, Markarian RA, Quinelato A, Youssef F, Mori M, Youssef M. Teeth characterization using ion beam analysis [Internet]. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry. 2006 ; 269( 3): 683-687.[citado 2024 abr. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10967-006-0286-3
Vancouver
Rizzutto M de A, Added N, Tabacniks MH, Falla-Sotelo F, Curado JF, Francci C, Markarian RA, Quinelato A, Youssef F, Mori M, Youssef M. Teeth characterization using ion beam analysis [Internet]. Journal of Radionalytical and Nuclear Chemistry. 2006 ; 269( 3): 683-687.[citado 2024 abr. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10967-006-0286-3
Trabalho de evento-resumo
Pixe analysis of trace elements in whole blood and serum of young adults in São Paulo, Brasil (2006)
Bernardes, S; Tabacniks, Manfredo Harri ; Barbosa, M D L; Added, N; Rizzutto, Marcia de Almeida; Martinez, M B; Machado, Juliana B A
Source: Abstracts. Conference titles: International Conference on Nucleus Nucleus Collisions. Unidades: IF, HU
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, COLISÕES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BERNARDES, S et al. Pixe analysis of trace elements in whole blood and serum of young adults in São Paulo, Brasil. 2006, Anais.. São Paulo: SBF, 2006. Disponível em: http://www.nn2006.com.br/oral/305_Abstract_Bernardes.pdf. Acesso em: 27 abr. 2024.
APA
Bernardes, S., Tabacniks, M. H., Barbosa, M. D. L., Added, N., Rizzutto, M. de A., Martinez, M. B., & Machado, J. B. A. (2006). Pixe analysis of trace elements in whole blood and serum of young adults in São Paulo, Brasil. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.nn2006.com.br/oral/305_Abstract_Bernardes.pdf
NLM
Bernardes S, Tabacniks MH, Barbosa MDL, Added N, Rizzutto M de A, Martinez MB, Machado JBA. Pixe analysis of trace elements in whole blood and serum of young adults in São Paulo, Brasil [Internet]. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.nn2006.com.br/oral/305_Abstract_Bernardes.pdf
Vancouver
Bernardes S, Tabacniks MH, Barbosa MDL, Added N, Rizzutto M de A, Martinez MB, Machado JBA. Pixe analysis of trace elements in whole blood and serum of young adults in São Paulo, Brasil [Internet]. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.nn2006.com.br/oral/305_Abstract_Bernardes.pdf
Trabalho de evento-resumo periodico
Clareamento dental: análise da concentração elementar em esmalte dental usando acelerador de partícul (2005)
Francci, Carlos Eduardo; Markarian, Roberto Adrian; Mori, Matsuyoshi; Added, N; Rizzutto, Marcia de Almeida
Source: Brazilian Oral Research. Conference titles: Reunião Anual da Sociedade Brasileira de Pesquisa Odontológica. Unidade: FO
Subjects: CLAREAMENTO DE DENTE, ESMALTE DENTÁRIO, ACELERAÇÃO DE PARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FRANCCI, Carlos Eduardo et al. Clareamento dental: análise da concentração elementar em esmalte dental usando acelerador de partícul. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 27 abr. 2024. , 2005
APA
Francci, C. E., Markarian, R. A., Mori, M., Added, N., & Rizzutto, M. de A. (2005). Clareamento dental: análise da concentração elementar em esmalte dental usando acelerador de partícul. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo.
NLM
Francci CE, Markarian RA, Mori M, Added N, Rizzutto M de A. Clareamento dental: análise da concentração elementar em esmalte dental usando acelerador de partícul. Brazilian Oral Research. 2005 ; 19 225.[citado 2024 abr. 27 ]
Vancouver
Francci CE, Markarian RA, Mori M, Added N, Rizzutto M de A. Clareamento dental: análise da concentração elementar em esmalte dental usando acelerador de partícul. Brazilian Oral Research. 2005 ; 19 225.[citado 2024 abr. 27 ]

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